Lantan elementinin ince ve aşırı ince yapısının incelenmesi

---

Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: İstanbul Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fen Fakültesi Bölümü, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2006

Tezin Dili: Türkçe

Öğrenci: Alev Er

Asıl Danışman (Eş Danışmanlı Tezler İçin): Gönül BAŞAR

Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu

Özet:

Bu çalışmada nötr Lantan elementinin (La I) ince ve aşırı ince yapısının incelenmesiamaçlandı.Lantan elementinin aşırı ince yapısı deneysel olarak incelendi. La I elementinin570 nm-590 nm ve 700 nm-825 nm dalgaboyu aralığındaki 19 farklı spektral geçişinspektrumları silindir katod boşalım ortamında boya laser ve Titan-Safir laserkullanılarak optogalvanik spektroskopi yöntemi ile ölçüldü.La I elementinin tek pariteli 16 enerji seviyesine ait A manyetik dipol aşırı ince yapısabiti ve B elektrik kuadropol aşırı ince yapı sabiti belirlendi. Altı A manyetik dipol ve11 B elektrik kuadropol aşırı ince yapı sabiti ilk defa bu çalışmada elde edildi.Lantan elementinin ince yapısı ise teorik olarak incelendi. La I elementinin tek pariteli5d6s6p, 4f6s2, 6s26p, 5d26p, 4f5d6s konfigürasyonlarına ait ince yapı parametreleribelirlendi. 97 deneysel enerji seviyesinin 94'ü çok konfigürasyonlu fit metodukullanılarak teorik enerji değerleri ile fit edildi.