The behaviour of anodic Al2O3 thin films in constant and alternating electric fields
Defects in SiO2 and related dielectrics: Science and Technology Conference, Rome, İtalya, 1 - 04 Nisan 2000, ss.1, (Tam Metin Bildiri)
- Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
- Basıldığı Şehir: Rome
- Basıldığı Ülke: İtalya
- Sayfa Sayıları: ss.1
- İstanbul Üniversitesi Adresli: Evet