Thickness dependence of dielectric loss in anodic Al2O3 thin films

Ulutaş H. K., Değer D.

28th International Physics Congress, Muğla, Türkiye, 1 - 04 Eylül 2011, ss.635, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Muğla
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.635
  • İstanbul Üniversitesi Adresli: Evet