Thickness dependence of dielectric loss in anodic Al2O3 thin films

Ulutaş H. K. , Değer D.

28th International Physics Congress, Muğla, Türkiye, 1 - 04 Eylül 2011, ss.635

  • Basıldığı Şehir: Muğla
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.635