MBE tekniği ile büyütülen GaxIn1-xP/GaAs yapılarının kritik nokta enerjilerinin spektroskopik elipsometre ile incelenmesi


ÇETİN S. Ş. , KINACI B. , PİŞKİN E., EFKERE H. İ. , MEMMEDLİ T., ÖZÇELİK S.

18. Yoğun Madde Fiziği Kongresi, Ankara, Türkiye, 25 Kasım 2011, ss.72

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Ankara
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.72