Statistical investigation of hot-carrier degradation and lifetime prediction of PMOS transistors

KAÇAR F., KUNTMAN A., Kuntman H.

International Conference on Electrical and Electronics, Türkiye, ss.76-80, (Tam Metin Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Basıldığı Ülke: Türkiye
• Sayfa Sayıları: ss.76-80
• İstanbul Üniversitesi Adresli: Evet