An Application of Weibull Distribution to Hot Carrier Degradation in Threshold Voltage and Drain Current of MOS Transistors


ardalı a., KUNTMAN A., KAÇAR F., Kuntman H.

International Conference on Electrical and Electronics Engineering, Türkiye, ss.86-90

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.86-90
  • İstanbul Üniversitesi Adresli: Evet