Conduction Mechanism Analysis in b FeSi2 n Si Heterojuction Through J V T Measurement

ÖZDEMİR O., TATAR B., Yılmazer D., GÖKDEMİR F. P., BULGURCUOĞLU A. E., Aydoğan P., ...Daha Fazla

International Workshop on Advanced Materials and Devices for Photovoltaic Applications (NANOMAT 2008), Ankara, Türkiye, 24 - 25 Nisan 2008

  • Yayın Türü: Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Ankara
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • İstanbul Üniversitesi Adresli: Evet