In-Situ XRD Measurements and Simulations to Determine Grain Sizes in GeSbTe at Various Annealing Temperatures

---

ÇİL K., Woods Z., ADNANE L., CYWAR A., DIRISAGLIK F., ZHU Y., ...Daha Fazla

Materials Research Society (MRS) 2015 Fall Meeting, Boston, Amerika Birleşik Devletleri, 29 Kasım - 04 Aralık 2015, cilt.KK, sa.321, ss.321, (Tam Metin Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Cilt numarası: KK
• Basıldığı Şehir: Boston
• Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
• Sayfa Sayıları: ss.321
• İstanbul Üniversitesi Adresli: Hayır