In-Situ XRD Measurements and Simulations to Determine Grain Sizes in GeSbTe at Various Annealing Temperatures


ÇİL K., Woods Z., ADNANE L., CYWAR A., DIRISAGLIK F., ZHU Y., ...Daha Fazla

Materials Research Society (MRS) 2015 Fall Meeting, Boston, Amerika Birleşik Devletleri, 29 Kasım - 04 Aralık 2015, cilt.KK, sa.321, ss.321

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Cilt numarası: KK
  • Basıldığı Şehir: Boston
  • Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
  • Sayfa Sayıları: ss.321
  • İstanbul Üniversitesi Adresli: Hayır