The behaviour of anodic Al2O3 thin films in constant and alternating electric fields


Değer D. , Ulutaş H. K.

Defects in SiO2 and related dielectrics: Science and Technology Conference, Rome, İtalya, 1 - 04 Nisan 2000, ss.1

  • Basıldığı Şehir: Rome
  • Basıldığı Ülke: İtalya
  • Sayfa Sayıları: ss.1