The behaviour of anodic Al2O3 thin films in constant and alternating electric fields

Değer D., Ulutaş H. K.

Defects in SiO2 and related dielectrics: Science and Technology Conference, Rome, İtalya, 1 - 04 Nisan 2000, ss.1

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Rome
  • Basıldığı Ülke: İtalya
  • Sayfa Sayıları: ss.1
  • İstanbul Üniversitesi Adresli: Evet