COMPARISON OF XRF, SEM-EDS AND LA-ICP-MS IN FORENSIC GLASS FRAGMENT ANALYSIS


Ozmerinoglu Y., Cengiz S.

21st Triennial Meeting of the International-Association-of-Forensic-Sciences (IAFS), Toronto, Kanada, 21 - 25 Ağustos 2017, cilt.277, ss.97 identifier

  • Cilt numarası: 277
  • Basıldığı Şehir: Toronto
  • Basıldığı Ülke: Kanada
  • Sayfa Sayıları: ss.97