Relaxation Spectrum of the TlSbSe2 Thin Films


DEĞER ULUTAŞ D. , ULUTAŞ H. K. , YILDIRIM S. , KALKAN N.

25thInternational Conference on Defects in Semiconductors,, Rusya, 1 - 04 Temmuz 2009, ss.329

  • Basıldığı Ülke: Rusya
  • Sayfa Sayıları: ss.329