Statıstıcal Model of Hot-Carrier Degradation and Lifetime Prediction for P-MOS Transistors

KAÇAR F., KUNTMAN A., Kuntman H.

TURKISH JOURNAL OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMPUTER SCIENCES, cilt.14, ss.2-37, 2006 (SCI-Expanded)

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 14
  • Basım Tarihi: 2006
  • Dergi Adı: TURKISH JOURNAL OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMPUTER SCIENCES
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus, TR DİZİN (ULAKBİM)
  • Sayfa Sayıları: ss.2-37
  • İstanbul Üniversitesi Adresli: Evet