The Influence of Film Thickness on the Structural and Electrical Ptopertiesof beta FeSi2 Si Heterojunctions

TATAR B., KUTLU K.

25. International Physics Conference, Bodrum, Türkiye, 25 - 29 Ağustos 2008

  • Yayın Türü: Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Bodrum
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • İstanbul Üniversitesi Adresli: Evet