Van Der Pauw Hall Mobility Measurement Setup for Thin Film Characterization at High Temperatures


ADNANE L., DIRISAGLIK F., ÇİL K., GOKIRMAK A., SILVA H.

Connecticut Symposium on Microelectronics & Optoelectronics (CMOC), Bridgeport, Amerika Birleşik Devletleri, 01 Nisan 2015, ss.73

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Bridgeport
  • Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
  • Sayfa Sayıları: ss.73
  • İstanbul Üniversitesi Adresli: Hayır