Thickness dependence of the dielectric properties of thermally evaporated Sb2Te3 thin films


Ulutaş H. K. , Değer D. , Yakut Ş.

15 th International conference on thin films, Kyoto, Japonya, 1 - 04 Kasım 2011, ss.206

  • Basıldığı Şehir: Kyoto
  • Basıldığı Ülke: Japonya
  • Sayfa Sayıları: ss.206