The thickness dependence of dielectric properties of amorphous Al2O3 films

Değer D., Ulutaş H. K.

International Conference of Atomic Collision Solids, Paris, Fransa, 1 - 04 Ağustos 2001, ss.150, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Paris
  • Basıldığı Ülke: Fransa
  • Sayfa Sayıları: ss.150
  • İstanbul Üniversitesi Adresli: Evet