Thickness dependence of the dielectric properties of TlSbS2 thin films

Parto M., Değer D., Ulutaş H. K.

Fizika Azerbaijan Journal of Physics, cilt.16, ss.339-341, 2010 (Hakemli Dergi)

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 16
  • Basım Tarihi: 2010
  • Dergi Adı: Fizika Azerbaijan Journal of Physics
  • Sayfa Sayıları: ss.339-341
  • İstanbul Üniversitesi Adresli: Evet