The thickness dependence of dielectric properties of amorphous Al2O3 films


Değer D. , Ulutaş H. K.

International Conference of Atomic Collision Solids, Paris, Fransa, 1 - 04 Ağustos 2001, ss.150

  • Basıldığı Şehir: Paris
  • Basıldığı Ülke: Fransa
  • Sayfa Sayıları: ss.150